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可靠经济的LTE手机射频信道衰落测试解决方案
时间:2021-03-10 来源:888澳门集团娱乐网址 浏览量 90624 次
本文摘要:在实际移动通信网上,基站和手机或其他用户设备(UE)之间传输的信号没有明显的信号质量上升问题。

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在实际移动通信网上,基站和手机或其他用户设备(UE)之间传输的信号没有明显的信号质量上升问题。信号传输有很多路径,每条路径的波动值和相位差不同,因此交接的信号是这些多路径信号的总和。这些多路径信号强大且具有破坏性。

其他人造不会造成衰退,信号路径质量上升可以用Rayleigh系数响应。随着全球蜂窝通信网络运营商逐渐使用LTE,符合LTE拒绝的市场需求也在迅速增加,其中包括衰退功能。第三代合作伙伴计划(3GPP)在TS36.521-1标准中规定了衰落的技术规范,以衡量LTE手机的衰落特性。传统的衰变特性测试方法使用外部衰变模拟器和噪声源,通过普通的射频测试装置改变信号。

该设备明显减少了整个测试系统的费用,需要额外的软件控制和协商各机构。本文介绍了一种创造性的数字衰退模拟方法,该方法可以提高测量精度,延长测试时间,同时大大降低宝贵设备的成本。

模拟信号衰减如图1右侧所示,在实际系统环境中,发射器和接收器之间没有无数条路径。虽然不能模拟所有路径,但为了满足测试目的,损失要比最佳路径少得多,对接管信号质量产生负面影响的路径将被忽略。推迟一定的长路径不会造成高损失,因此不需要展开模拟。

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可以根据具有相似延迟的路径集和多普勒频移效果的统计值进一步修改模拟。AeroflexEOS基带信号的射频(RF)切换可能是最简单的方法。在图2(a)右侧,无线信道建模通常使用两种仪器执行测试:衰退模拟器和加性高斯噪声(AWGN)源。

衰退模拟器模仿基站和用户设备之间随时间推移的射频路径,AWGN信号源模仿其他小区或用户造成障碍。除了可选设备带来的费用外,这种传统方法信号电平不大,需要非常仔细地校准。(大卫亚设,Northern Exposure(美国电视),设备)外部部件会造成干扰损失和延迟。其他测试需要手动连接。

独立国家的衰落RF信道数量限制不能满足对硬转换(UMTS)、天线冗余和多输出/多输入(MIMO)环境的拒绝测试。模拟组件降低信号质量。

无法或无法执行正确的重复测试。与基带衰退模拟相比,内置衰退模拟器选项的Aeroflex7100射频测试器使用的测试方法如图2(b)右图所示。

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7100测试平台(图3右侧)的衰退模拟功能满足或超过所有3GPP拒绝,并根据LTE用户设备提供前所未有的灵活性,无需手动重新配置。内置衰退模拟器的7100测试器可以执行原来的重复测试,还包括模拟动态环境,可以可靠准确地测试MIMO系统。7100平台上的每个基带模块都是微TCA卡,包括多种标准处理器(GPP)、DSP、FPGA和双向高速数字链路。

基带模块分解单插槽输出、单插槽输入(SISO)或MIMO中一个或多个单元格输入的基带样本。AWGN在信号到达RF模块之前再次添加信号,模拟其他干扰区。这是一个数字解决方案:不需要使用新的模拟设备来减少衰退和噪音。

这样可以防止校准问题,发送到模拟的信号几乎受到重视。


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